美國GE超聲波探傷儀帶有LCD模擬模式既定光線的讀出能力及LCD在全部天氣下的溫度極限能力。當測試時，全屏模式zui大化A掃描區域以提高讀出能力，而且它的快速反應能力和峰值捕捉功能會確保在任何情況下都清晰顯示，即使它隻出現一個PRF循環。
本測試是為了測定美國GE超聲波探傷儀在規定的探傷靈敏度下，從探測麵到能夠發現缺陷的最小距離。盲區越小，儀器性能越優越。
測試所需設備和材料：
(1)儀器：通用型超聲波探傷儀一台
(2)探頭：2.5P20Z直探頭一個
(3)連接線：探頭連接線一根
(4)試塊：CSK-IA試塊一塊
(5)耦合劑：機油一瓶
盲區的測試方法：
1、首先，進入儀器通道參數界麵。
探測範圍：調節為50mm。
工作方式：為設置為“單”。
“抑製”：調節為0。
探頭類型：設置為直探頭。
探頭延時：這裏前期測量為1.47us(微秒)。
2、盲區的測定
(1)這裏利用CSK-IA試塊A麵，Φ50mm孔距兩側邊緣5㎜和10㎜的邊距測盲區大小。
將探頭分別放置在CSK-IA試塊A麵上測5mm盲區，在側麵上測10mm盲區，在時基線上，看孔波與始波間是否有穀底，若穀底不在時基線上，則不能分辨孔波。
(2)一般先將探頭放置在10mm邊距，找到Φ50mm孔波，使Φ50mm孔波為滿幅度的80%，在時基線上，若能分辨孔波和始波間的穀底，則盲區小於10mm。這裏測試結果能夠區分孔波和始波間的穀底。
(3)然後，再探5mm邊距，使Φ50mm孔波為滿幅度的80%，在時基線上，若不能分辨孔波和始波間的穀底，則至少5mm是盲區。這裏測試結果表明儀器不能分辨孔波和始波間的穀底，則這台儀器的盲區至少5mm。
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